¿Qué mide XPS?

XPS (espectroscopia de fotoelectrones de rayos X) se utiliza principalmente para el análisis de superficies y puede medir la composición química y la información del estado de valencia de la superficie del material.

Al analizar la energía, el ángulo y la intensidad de los fotoelectrones y los electrones Auger emitidos después de ser excitados por fotones de rayos X en la superficie de la muestra, XPS puede determinar información como el tipo de elemento, el estado químico, el tipo de enlace químico y contenido. Esta tecnología también puede realizar análisis de microáreas con una profundidad de detección de menos de 10 nanómetros y es adecuada para analizar muestras a granel o de películas delgadas. Debido a que XPS es un método de análisis no destructivo con poco impacto en las muestras, tiene amplias aplicaciones en campos como la ciencia de materiales, la nanotecnología, el desarrollo de catalizadores, la preparación de sensores químicos y biológicos y la modificación de superficies.