La Red de Conocimientos Pedagógicos - Conocimientos universitarios - 2022 Tiempo de examen de ingeniero de metrología registrado de nivel 1

2022 Tiempo de examen de ingeniero de metrología registrado de nivel 1

Muchos amigos se están preparando para postularse para el examen de ingeniero en metrología registrado de primer nivel y están muy preocupados por cuándo será el examen para ingeniero de metrología registrado de primer nivel. El siguiente es el "Tiempo de examen de metrólogo registrado de nivel 1 de 2022" que compilé únicamente para su referencia. Bienvenido a este artículo.

El tiempo de examen para el ingeniero matriculado en metrología de primer nivel en el año 2022 se basa en el “Aviso de la Dirección General del Ministerio de Recursos Humanos y Seguridad Social sobre el Plan de Exámenes de Calificación Profesional 2022 y Materias Afines” (Departamento de Recursos Humanos y Seguridad Social [2022] No. 3) disponer. El Examen de Calificación Profesional de Ingeniero en Metrología Registrado de 2022 se llevará a cabo los días 11 y 12 de junio. El formato del examen es en papel.

Las materias del examen de calificación profesional de ingeniero en metrología registrado de primer nivel son las leyes y reglamentos de metrología y el conocimiento integral (preguntas objetivas), el procesamiento de datos metrológicos y la práctica profesional de metrología (preguntas objetivas) y el análisis de casos profesionales de metrología. (preguntas subjetivas).

11 de junio

9:00-11:30 am Medición de Leyes, Normas y Conocimientos Integrales (Nivel 1)

14:00-16:30 PM Práctica profesional de procesamiento de datos de medición y metrología (Nivel 1)

12 de junio

9:00-12:00 am Análisis de casos profesionales de metrología (Nivel 1)

¿Qué puede hacer un Ingeniero en Metrología Registrado Clase I? Los ingenieros de metrología registrados se refieren al personal profesional y técnico que se dedica a la verificación, calibración, inspección, pruebas y otros trabajos técnicos metrológicos y han obtenido el nivel correspondiente de certificado de calificación de ingeniero metrológico después de haber sido registrados de conformidad con la ley. , se dedican a trabajos técnicos metrológicos dentro del alcance prescrito.

El Ministerio de Personal y la Administración General de Supervisión de Calidad, Inspección y Cuarentena anunciaron el lanzamiento del sistema nacional de calificación de metrólogos registrados. Solo los técnicos profesionales que hayan aprobado el examen y obtenido un certificado de calificación pueden convertirse en ingenieros de metrología registrados. Los metrólogos registrados están incluidos oficialmente en la gestión unificada de certificados nacionales de cualificación profesional.

Para quienes hayan obtenido el certificado de calificación de ingenieros registrados en metrología y cumplan con los requisitos para cargos profesionales y técnicos de ingenieros, ayudantes de ingenieros y técnicos en ingeniería en el "Reglamento de Prueba para los Cargos del Personal de Ingeniería y Técnico". ", el empleador podrá elegir el puesto correspondiente según las necesidades laborales. Puestos profesionales y técnicos. Entre ellos, aquellos que hayan obtenido el certificado de calificación de topógrafo registrado de primer nivel pueden contratar ingenieros; aquellos que hayan obtenido el certificado de calificación de topógrafo registrado de segundo nivel pueden contratar ingenieros asistentes o técnicos de ingeniería.

Se entiende que el alcance de la práctica de un topógrafo registrado de primer nivel es: calibrar puntos de referencia de medición, instrumentos estándar de medición y otros trabajos técnicos de medición, y emitir informes técnicos de medición para un registrado de segundo nivel; Topógrafo en un mismo proyecto profesional Orientación e inspección del trabajo. El alcance de la práctica del topógrafo registrado de segundo nivel es: además de la calibración de puntos de referencia de medición e instrumentos estándar, otros trabajos de tecnología de medición y la emisión de los correspondientes informes de tecnología de medición.